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| Istituto | Anno di pubblicazione | Titolo | Autore | file(s) |
|---|---|---|---|---|
| Università degli Studi di Trento | 2005 | Structural characterisation of Er3+-doped SiO2-HfO2 and Sio2-Tio2 waveguides by exafs and XRD a thesis submitted for the degree of doctor of philosophy in physics | - |
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