Structural characterisation of Er3+-doped SiO2-HfO2 and Sio2-Tio2 waveguides by exafs and XRD a thesis submitted for the degree of doctor of philosophy in physics
Nasser D., Afify
2005
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/247686
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:UNITN-247686