TCAD modeling of current transport and main reliability issues of polysilicon-channel 3-D NAND Flash strings
2020
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
thesis_Mannara.pdf
accesso solo da BNCF e BNCR
Tipologia:
Altro materiale allegato
Dimensione
10.96 MB
Formato
Adobe PDF
|
10.96 MB | Adobe PDF |
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.14242/139658
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:POLIMI-139658