Metodi innovativi per la diagnosi di guasto nei circuiti analogici

GRASSO, FRANCESCO
2003

2003
Italiano
Diagnosi di guasto; circuiti analogici; gruppi di ambiguità; testabilità; design centering; fault diagnosis
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/186666
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIFI-186666