Sviluppo di nuove strategie per studi affidabilistici ed analisi diagnostiche su componentistica elettronica e optoelettrica a stato solido con tecniche di microscopia ordinaria e a scansione strumentazione, modellistica e applicazioni tesi
Simona, Podda
2003
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/224736
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URN:NBN:IT:UNICA-224736