Caratterizzazione di dispositivi passivi e sottosistemi integrati a microonde tramite il metodo degli elementi finiti dottorato in ingegneria informatica e delle telecomunicazioni

Enrica, Martini
2001

2001
Italiano
Giacomo, Bucci
Giuseppe, Pelosi
Franco, Giannini
Christian, Pichot
Università degli Studi di Firenze
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/242539
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIFI-242539