Studio di difetti in leghe epitassiali a base di silicio con tecnica deep level transient spetroscopy

Piero, Schiavuta
2004

2004
Italiano
Emanuele, Rimini
Ignazio, Fragalà
Università degli Studi di Catania
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/242780
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNICT-242780