Non-invasive testing of VLSI circuits doctoral dissertation

Alberto, Tosi
2005

2005
Inglese
Franco, Zappa
Andrea, Lacaita
Stefano, Crespi Reghizzi
Politecnico di Milano
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/243897
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLIMI-243897