Instrumentation for wide-bandwidth electrical characterisation at the nanoscale using atomic force microscopy doctoral dissertation

Laura, Fumagalli
2006

2006
Inglese
Marco, Sampietro
Andrea, Lacaita
Stefano, Crespi Reghizzi
Politecnico di Milano
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/257995
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLIMI-257995