Caratterizzazione elettrica di film porosi nanostrutturati di silicio dottorato di ricerca in fisica fondamentale ed applicata


Italiano
Musto, Renato
Iadonisi, Giuseppe
Di Francia, Girolamo
Università degli Studi di Napoli Federico II
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/262167
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNINA-262167