La spettrometria di massa di ioni secondari a tempo di volo (ToF-SIMS) strumento di indagine di superfici molecolari funzionali tesi di dottorato di ricerca dottorato di ricerca in scienza dei materiali, 16. ciclo
Alessandro, Auditore
2005
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/270202
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URN:NBN:IT:UNICT-270202