High-resolution X-ray spectroscopy with silicon drift detectors dottorato di ricerca in ingegneria elettronica e delle comunicazioni

1998

Spettroscopia X ad alta risoluzione con rivelatori a deriva a semiconduttore
1998
Italiano
Longoni, Antonio
Politecnico di Milano
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/271189
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLIMI-271189