Caratterizzazione ed affidabilità di dispositivi a semiconduttori composti dottorato di ricerca in tecnologie dell'informazione dissertazione presentata per il conseguimento del titolo di dottore di ricerca
1994
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/278338
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:UNIPR-278338