Caratterizzazione statistica di circuiti integrati in tecnologia CMOS per la lettura di rivelatori a pixel tesi per il conseguimento del titolo di dottore di ricerca in ingegneria elttronica
-
1997
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.14242/282649
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:POLIBA-282649