Advanced analytical transmission electron microscopy methodologies for the study of the chemical and physical properties of semiconducting nanostructures
ROTUNNO, ENZO
2014
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
TESI-finale.pdf
accesso aperto
Licenza:
Tutti i diritti riservati
Dimensione
9.72 MB
Formato
Adobe PDF
|
9.72 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.14242/370857
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:UNIPR-370857