Electrical measurements and numerical simulations of Ion Implanted 4H-SiC PiN diodes

PUZZANGHERA, MAURIZIO
2018

27-mar-2018
Italiano
SiC, Diode, pin, lifetime, simulation, measurements
SOZZI, Giovanna
Università degli Studi di Parma
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/371302
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIPR-371302