Reliability and dynamic properties of GaN devices

BARBATO, ALESSANDRO
2018

30-set-2018
Inglese
HEMT, GaN, dynamic ON resistance, RDSON, hard switching, application, dynamic
Università degli studi di Padova
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/109430
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIPD-109430