New Techniques for Reliability Characterization of Electronic Circuits

CIGANDA, LYL MERCEDES
2013

2013
Inglese
reliability characterization; integrated circuit testing
Politecnico di Torino
178
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/114984
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-114984