Impiantazione ionica e laser annealing a bassa potenza: studio degli effetti microstrutturali mediante microscopia elettronica ad alta risoluzione.

ZOLLO, Giuseppe
1996

1996
Microscopia elettronica; semicondurrori; interazione laser-materia
Università degli Studi di Roma "La Sapienza"
186
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/116041
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIROMA1-116041