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Dimensional metrology at the nanoscale: quantitative characterization of nanoparticles by means of metrological atomic force microscopy

RIBOTTA, LUIGI
2022

Abstract

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4-nov-2022
Inglese
ZUCCO, MASSIMO
Politecnico di Torino
240
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/166900
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-166900