UNITesi

Toward Fault-Tolerant Applications on Reconfigurable Systems-on-Chip

DE SIO, CORRADO
2023
19-mag-2023
Inglese
Fault Injection; Fault Tolerance; FPGA; Programmable Hardware; Radiation Test; Reliability; SEU;
STERPONE, LUCA
DU, BOYANG
Politecnico di Torino
182
Politecnico di Torino
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/168550
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-168550