New Techniques to Detect and Mitigate Aging Effects in Advanced Semiconductor Technologies

SARTONI, SANDRO
2023

3-nov-2023
Inglese
aging; sbst; safety; delay-faults
SONZA REORDA, MATTEO
CANTORO, RICCARDO
Politecnico di Torino
177
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/169945
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-169945