UNITesi

New techniques for quality and reliability enhancement in electronic systems

MIRABELLA, NUNZIO
2024
11-set-2024
Inglese
SRAM; march test; resistive defects; low-power memories; ATPG; cell-aware; path delay; testing; design for testability; defect testing
SONZA REORDA, MATTEO
GROSSO, MICHELANGELO
Politecnico di Torino
103
Politecnico di Torino
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/170812
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-170812