Loss Mechanisms in InGaN/GaN Quantum Well Structures

TAMIAZZO, GIANLUCA
2008

2008
Inglese
GaN, LEDs, degradation, reliability, quantum well
Università degli studi di Padova
235
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/173332
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIPD-173332