UNITesi

Test and diagnosis of memories embedded in Automotive SoCs

INSINGA, GIORGIO
2025
21-mar-2025
Inglese
Automotive Systems-on-Chips (SoCs); embedded memories; diagnostic data collection; voltage droop mitigation; fault shapes; failure bitmap encoding; memory testability; fault classification; memory organization reconstruction; radiation effects; neural networks; memory reliability; diagnostic data processing; fault pattern recognition
BERNARDI, PAOLO
CANTORO, RICCARDO
Politecnico di Torino
138
Politecnico di Torino
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/197655
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-197655