TOF-SIMS characterization of nanocrystals embedded in thin SiO2 films

Michele, Perego
2004

2004
Inglese
Rodolfo, Bonifacio
Marco, Fanciulli
Università degli Studi di Milano
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/226041
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIMI-226041