Reliability of AIGaN/GaN HEMTs for RF and microwave applications

Alberto, Sozza
2005

2005
Inglese
Enrico Zanoni
Silvano Pupolin
Università degli Studi di Padova
Università degli Studi di Padova
Università degli Studi di Padova
Università degli Studi di Padova
Università degli Studi di Padova
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/247091
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIPD-247091