Metodologie e tecniche di misura per l'estrazione di parametri circuitali e parassiti nei transistori bipolari avanzati e la valutazione della loro affidabilità dottorato di ricerca in strumentazione elettronica
1996
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/275229
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:UNIPD-275229