Una cavità laser per la misurazione dello spostamento del componente mobile di un interferometro X nella determinazione della costante reticolare del silicio dottorato di ricerca in metrologia (scienza e tecnica delle misure)
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1987
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https://hdl.handle.net/20.500.14242/278719
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:POLITO-278719