Studio di aggregati di SiOx in silicio mediante spettroscopia infrarossa dottorato di ricerca in fisica tesi di dottorato

1994

1994
Italiano
Borghesi, Alessandro
Università degli Studi di Pavia
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/281152
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:UNIPV-281152