UNITesi

Manufacturing and In-Field Testing Techniques

FILIPPONI, GABRIELE
2026
27-mar-2026
Inglese
Functional Testing; Stress Functional Patterns; AI Hardware Accelerators; Burn-In; Automotive Testing; System-Level Test; Functional Testing; Fault Simulation; Automotive SoCs; Functional Safety; Logic Built-In Self-Test (LBIST); Silicon Lifecycle Management (SLM); Logic Diagnosis; Multiple Input Signature Register (MISR); In-Field Data Collection
BERNARDI, PAOLO
CANTORO, RICCARDO
Politecnico di Torino
131
Politecnico di Torino
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
conv_thesis_final_final.pdf

accesso aperto

Licenza: Tutti i diritti riservati
Dimensione 15.3 MB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
15.3 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
conv_abstract_final_final.pdf

accesso aperto

Licenza: Tutti i diritti riservati
Dimensione 51.2 kB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
51.2 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/362934
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-362934