Enhanced Electrical and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices

CIMMINO, DAVIDE
2021

25-mar-2021
Inglese
reliability; humidity; temperature; voltage; HV-THB; H3TRB; passivation; power; modules; testing; semiconductor; device
PIRRI, Candido
FERRERO, SERGIO
Politecnico di Torino
150
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14242/71653
Il codice NBN di questa tesi è URN:NBN:IT:POLITO-71653