Atomic Force Microscopy in nanometrology: modeling and enhancement of the instrument
MARINELLO, FRANCESCO
2007
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
PhD_Thesis_Marinello.pdf
accesso aperto
Licenza:
Tutti i diritti riservati
Dimensione
8.19 MB
Formato
Adobe PDF
|
8.19 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.14242/111176
Il codice NBN di questa tesi è
URN:NBN:IT:UNIPD-111176